薄膜測(cè)厚儀采用機(jī)械式測(cè)量方法，適用于塑料薄膜量程范圍內(nèi)各種材料的厚度測(cè)量。另外具有電腦通信接口，通過選購軟件實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的性存儲(chǔ)、查詢、打??；軟件功能強(qiáng)大，可將成組試驗(yàn)數(shù)據(jù)用柱形圖或列表方式進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，試結(jié)報(bào)告可直接在局域網(wǎng)或廣域網(wǎng)中進(jìn)行傳輸。適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試，還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)、試紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。
薄膜測(cè)厚儀特點(diǎn)
1.通過顯微光譜法測(cè)量高精度反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)）；
2.頭部集成了薄膜厚度測(cè)量所需功能；
3.區(qū)域傳感器的安全機(jī)制；
4.顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外）；
5.高速測(cè)量；
6.測(cè)量頭對(duì)應(yīng)各種客制化需求；
7.易于分析向?qū)В鯇W(xué)者也能夠進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析；
8.支持各種自定義。
機(jī)械式測(cè)厚儀是一種接觸式測(cè)厚設(shè)備，多采用高精度傳感器，因?yàn)樗臏y(cè)試只和微小位移有關(guān)，所以對(duì)試樣沒有選擇性。機(jī)械式測(cè)厚儀的測(cè)試精度主要取決于位移傳感器的精度，環(huán)境溫度和風(fēng)速會(huì)影響傳感器的精度，因此必須在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境內(nèi)使用。
薄膜測(cè)厚儀使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過反射率進(jìn)行測(cè)量，可進(jìn)行高精度膜厚度、光學(xué)常數(shù)分析。可通過非破壞性和非接觸方式測(cè)量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學(xué)材料和多層膜。測(cè)量時(shí)間上，能達(dá)到1秒/點(diǎn)的高速測(cè)量，并且搭載了即使是初次使用的用戶，也可容易出分析光學(xué)常數(shù)的軟件。
